Кристалографија: Разлика помеѓу преработките
[проверена преработка] | [проверена преработка] |
Избришана содржина Додадена содржина
сНема опис на уредувањето |
с Јазична исправка, replaced: титаниум → титан |
||
Ред 1:
[[Податотека:Stohrem.jpg|мини| Кристална цврста форма: атомска резолуција на [[
'''Кристалографијата''' е експериментална наука за одредување на распоредот на атоми во кристални цврсти материи (види [[кристална структура]]). Зборот „кристалографија“ е изведен од [[Грчки јазик|грчките]] зборови ''кристал'' „ладна капка, замрзната капка“, што значи протегање на сите цврсти материи со одреден степен на транспарентност, и ''графин'' „пишува“. Во јули 2012 година, [[Обединети нации|Обединетите нации ја]] признаа важноста на науката за кристалографија прогласувајќи дека 2014 година ќе биде Меѓународна година на кристалографија.<ref name="UN Resolution">[http://www.iycr2014.org/about/resolution UN announcement "International Year of Crystallography"]. iycr2014.org. 12 јули 2012</ref>
Пред развојот на кристалографската дифракција на Х-зраци (види подолу), изучувањето на [[
▲[[Податотека:Stohrem.jpg|мини| Кристална цврста форма: атомска резолуција на [[Стронциум титанат |стронциум титанат]]. Посветлите атоми се [[Стронциум|стронциум,]] а потемните се титаниум.]]
▲'''Кристалографијата''' е експериментална наука за одредување на распоредот на атоми во кристални цврсти материи (види [[кристална структура]]). Зборот „кристалографија“ е изведен од [[Грчки јазик|грчките]] зборови ''кристал'' „ладна капка, замрзната капка“, што значи протегање на сите цврсти материи со одреден степен на транспарентност, и ''графин'' „пишува“. Во јули 2012 година, [[Обединети нации|Обединетите нации ја]] признаа важноста на науката за кристалографија прогласувајќи дека 2014 година ќе биде Меѓународна година на кристалографија.<ref name="UN Resolution">[http://www.iycr2014.org/about/resolution UN announcement "International Year of Crystallography"]. iycr2014.org. 12 јули 2012</ref>
Кристалографските методи сега зависат од анализата на моделите на [[дифракција]] на примерок осветлен од зрак од некаков вид. Најчесто се користат [[Рендгенски зраци|Х-зраците]], другите зраци што се користат вклучуваат [[
▲Пред развојот на кристалографската дифракција на Х-зраци (види подолу), изучувањето на [[Кристал|кристали]] се засновало на физички мерења на нивната геометрија користејќи [[гониометар]].<ref>{{Шаблон:Наведено списание|date=1915-07-01|title=The Evolution of the Goniometer|url=https://www.nature.com/articles/095564a0|journal=Nature|language=англиски|volume=95|issue=2386|pages=564–565|doi=10.1038/095564a0|issn=1476-4687}}</ref> Ова вклучува мерење на аглите на кристалните лица во однос на едни со други и на теоретските референтни оски (кристалографски оски) и воспоставување на [[Симетрија (физика)|симетрија]] на предметниот кристал. Позицијата во 3Д простор на секое кристално лице е прикажана на стереографска мрежа, како што е [[Волф мрежа|Волф мрежата]] или [[Ламберт азимутска проекција со еднаква област |мрежата на Ламберт]]. Полот на секое лице е исцртан на мрежата. Секоја точка е обележана со својот [[Милеров индекс|Милеров индекс]]. Конечниот график овозможува да се утврди симетријата на кристалот.
* Х-зраците заемнодејствуваат со просторната распределба на [[
▲Кристалографските методи сега зависат од анализата на моделите на [[дифракција]] на примерок осветлен од зрак од некаков вид. Најчесто се користат [[Рендгенски зраци|Х-зраците]], другите зраци што се користат вклучуваат [[Електрон|електрони]] или [[Неутрон|неутрони]]. Кристалографите честопати експлицитно го наведуваат типот на зрак кој го користат, како термините ''[[Рендгенска кристалографија|:кристалографија на X - зраци]], [[ Неутронска дифракција |дифракција на неутрони и дифракција на]]'' ''[[ Дифракција на електрони |електрони]]''. Овие три типа на зрачење заемнодејствуваат со примерокот на различни начини.
* Електроните се [[
* Неутроните се расејани од атомските јадра преку [[Јадрена сила|силните нуклеарни сили]], но покрај тоа, [[Магнетен момент|магнетниот момент]] на неутроните не е нула. Затоа, тие се расејани од [[Магнетно поле|магнетните полиња]]. Кога неутроните се расејуваат од материјали што содржат [[водород]], тие создаваат обрасци на дифракција со високи нивоа на бучава. Како и да е, материјалот понекогаш може да се третира како замена на [[девтериум|деутериум]] за водород.
Поради овие различни форми на интеракција, трите типа на зрачење се погодни за различни кристалографски проучувања.
▲* Х-зраците заемнодејствуваат со просторната распределба на [[Електрон|електроните]] во примерокот.
▲* Електроните се [[ Обвинета честичка |наелектризирани честички]] и притоа заемнодејствуваат со вкупната [[ Густина на полнење |распределба]] [[ Густина на полнење |полнежот]] на [[Атомско јадро|атомските јадра]] и електроните од примерокот.
▲* Неутроните се расејани од атомските јадра преку [[Јадрена сила|силните нуклеарни сили]], но покрај тоа, [[Магнетен момент|магнетниот момент]] на неутроните не е нула. Затоа, тие се расејани од [[Магнетно поле|магнетните полиња]]. Кога неутроните се расејуваат од материјали што содржат [[водород]], тие создаваат обрасци на дифракција со високи нивоа на бучава. Како и да е, материјалот понекогаш може да се третира како замена на [[девтериум|деутериум]] за водород.
▲Поради овие различни форми на интеракција, трите типа на зрачење се погодни за различни кристалографски проучувања.
== Теорија ==
Со конвенционална техника за сликање, како што се [[Оптички микроскоп|оптичките микроскопи]], добивањето на слика на мал објект бара собирање на светлина со зголемувачки [[Леќа (оптика)|леќи]]. Сепак, резолуцијата на кој било оптички систем е ограничена со [[
За жал, фокусирањето на Х-зраците со конвенционалните оптички леќи може да биде тешко. Научниците постигнале успех во насока на фокусирање на Х-зраци со микроскопски [[
Моделот на дифракција произлегува од конструктивното [[Бранова интерференција|мешање]] на фотоните, расејани во периодичните, повторувачки карактеристики на примерокот кој се испитува. Поради нивната високо подредена и повторувачка атомска структура ( [[
== Нотација ==
* Координатите во ''квадратни [[Заграда|загради]]'' како што се '''<nowiki>[100]</nowiki>''' означуваат насочен вектор (во реален простор).
* Координатите во ''аголни држачи'' или ''шеврони,'' како што е '''
* [[
* Индексите во ''загради'' или ''загради,'' како што се '''{100},''' означуваат семејство на рамнини и нивни нормали. Во кубни материјали, симетријата ги прави еквивалентни, исто како што начинот на кој аголните држачи означуваат семејство од насоки. Кај не-кубни материјали, <hkl> не е секогаш нормално на {hkl}.
== Техники ==
Некои материјали што биле анализирани кристалографски, како што се [[Белковина|протеините]], не се јавуваат природно како кристали. Обично, таквите молекули се ставаат во раствор и се остава полека да се кристализираат преку [[Расејување|дифузија на]] пареа. Капка раствор што содржи молекула, тампон и талог се запечатени во контејнер со резервоар кој содржи [[хигроскопност|хигроскопски]] раствор. Водата во капките се шири во резервоарот, полека ја зголемува концентрацијата и дозволува да се формира кристал. Доколку концентрацијата расте побрзо, молекулот едноставно ќе се [[
Откако ќе се добие кристал, податоците може да се соберат со помош на радијационен зрак. Иако многу универзитети кои се занимаваат со кристалографски истражувања и имаат своја опрема за производство на Х-зраци, [[синхротронско зрачење|синхроните]] често се користат како извори на Х-зраци, заради чистите и поцелосните обрасци што можат да генерираат такви извори. Изворите на синхротрон, исто така, имаат многу поголем интензитет на Х-зраци, така што при собирањето на податоците потребно е мал дел од времето кое е во нормални услови неопходно при послаби извори. Дополнителни техники на неутронска кристалографија се користат за да се идентификуваат позициите на водородните атоми, бидејќи Х-зраците меѓусебно слабо комуницираат со лесни елементи како водород.
Создавањето на слика од дифракциона шема бара софистицирана [[математика]] и честопати итеративен процес на '''моделирање и рафинирање.''' Во овој процес, математички предвидените модели на дифракција на хипотезирана или „моделска“ структура се споредуваат со вистинската шема генерирана од кристалниот примерок. Идеално, истражувачите прават неколку првични претпоставки, кои преку рафинирање, сите се спојуваат на истиот одговор. Моделите се рафинирани сè додека нивните предвидени модели не се совпаѓаат до толку голем степен што може да се постигне без радикална ревизија на моделот. Ова е макотрпен процес, олеснет денес од компјутерите.
Математичките методи за анализа на податоците за дифракција се применуваат само на ''обрасците,'' што пак резултира само кога брановите се оддалечуваат од уредните низи. Бидејќи, кристалографијата во најголем дел се применува само на кристалите, или на молекулите што можат да се сврзат и да се кристализираат поради некое мерење. И покрај ова, одредена количина молекуларни информации може да се извлече од обрасци што се генерираат од влакна и [[прашочно скршнување|прав]], кои иако не се совршени како цврст кристал, може да покажат одреден степен на редот. Ова ниво на редот може да биде доволно за да се заклучи структурата на едноставни молекули или да се утврдат грубите карактеристики на посложените молекули. На пример, двојно-спиралната структура на [[ДНК]] била донесена од дифракциона шема на Х-зраци, генерирана од влакнест примерок.
== Наука за материјалите ==
Кристалографијата ја користат научниците за да карактеризираат различни материјали. Кај единечните кристали, ефектите од кристалното уредување на атомите е често лесно да се видат макроскопски, бидејќи природните форми на кристали ја рефлектираат атомската структура. Покрај тоа, физичките својства често се контролираат од кристални дефекти. Разбирањето на кристалните структури е важен предуслов за разбирање на [[
Други физички својства се исто така поврзани со кристалографијата. На пример, минералите во [[глина]] формираат мали, рамни, плочкасти структури. Глината лесно може да се деформира затоа што плочкастите честички можат да се лизгаат едни по други во рамнината на плочите, но сепак да останат силно поврзани во насока нормална на плочите. Таквите механизми можат да се изучуваат со мерења на кристалографска [[
Кристалографијата е корисна во фазата на идентификација. При производство или употреба на даден материјал, генерално е пожелно да се знае кои соединенија и какви фази се присутни во материјалот, бидејќи нивниот состав, структура и пропорции ќе влијаат на својствата на материјалот. Секоја фаза има карактеристичен распоред на атоми. Дифракција на Х-зраци или неутрони може да се користи за да се идентификуваат кои модели се присутни во материјалот и со тоа кои соединенија се присутни. Кристалографијата опфаќа набројување на обрасците на симетријата што можат да се формираат со атоми во кристал и од оваа причина е поврзано со групната теорија и геометријата.
== Биологија ==
[[Рендгенска кристалографија|Кристалографијата со Х-зраци]] е примарен метод за утврдување на молекуларните конформации на биолошките [[макромолекула|макромолекули]], особено [[Белковина|протеините]] и [[Нуклеинска киселина|нуклеинските киселини]] како [[ДНК]] и [[РНК]]. Всушност, двојно-спиралната структура на ДНК била откриена со помош на кристалографски податоци, како што беше спомнато и претходно. Првата кристална структура на макромолекула, тродимензионален модел на молекулата на миоглобинот, била добиена во 1958 година, со анализа на Х-зраци.
== Референтна литература ==
''Меѓународните табели за кристалографија'' <ref>{{
:: Vol A - ''Space Group Symmetry'',
Ред 60 ⟶ 59:
== Наводи ==
{{наводи}}
[[Категорија:Наука за материјалите]]
[[Категорија:Кристалографија]]
|