Отвори го главното мени

Промени

{{Main|Фазно-контасно снимање}}
[[File:S cerevisiae under DIC microscopy.jpg|thumb|alt=Yeast cells with dark borders to the upper left and bright borders to lower right|Диференцијално интерферентна контрасна микроскопска слика на клетки од квасец.]]
 
Биолошките структури се провидни под [[светлосна микроскопија]] како и повеќето клеточни структури доволно не ја згаснуваат упадната светлина. Сепак, промените во материјалите од кои се состојат овие структури соодвествуваат со промената на показателот на прекршувањето. Следниве техники ја претвораат оваа промена во мерливи разлики на амплитудите:
 
За да се измери просторната промена на показателот на прекршување при едноставно [[фазно-контрасно снимање|фазно-контрасното снимање]] се користат различни методи. Овие методи ги мерат промените во [[фаза (бранови)|фазата]] на светлината која го напушта примерокот. Фазата е пропорционална со [[оптичка должина на патот|оптичката должина на патот]] што светлината го изминува, и на тој начин се добива [[интеграл]]от за показателот на прекршување по должината на зракот. Фазата не може да се измери директно при оптичките и повисоките фреквенции, и треба да се претвори во [[јачина (физика)|јачината]] на [[бранова интерференција|интерференцијата]] во однос на појдовниот зрак. Во видливиот дел од спектарот ова се постигнува со користење на Церникеева [[фазно-контрасна микроскопија]], [[диференцијално-интерферентна контрасна микроскопија]] (ДИК) или [[интерферометрија]].
 
Церникиевата фазно-контрасна микроскопија воведува употреба на фазна промена при ниските [[просторна фреквенција|просторни фреквенции]] составните делови од [[реален лик|ликот]] со фазно поместување на [[прстен (геометрија)|прстен]] во [[фуриерова оптика|Фуриеровата рамнина]] на примерокот, на начин што деловите со големи просторни фреквенции на сликата можат да интерферираат со нискофреквентниот појдовен зрак. При ДИК осветлувањето е поделено на два зраци со различни појдовни поларизации, се на различен начин фазно поместени, и се поместени трансферзално со малку поразлични чекори. По примерокот, двата делови се во интерференција, давајќи слика од изводот на оптичката должина на патот во насока на разликите во трансферзалната промена.<ref name=Carlsson/> Во интерферометријата осветлувањето се дели на два зраци преку [[делител на зраци|полупропустливо огледало]]. Еден од зраците е пропуштен низ примерокот пред да се комбинираат и интерферираат и дадат директна слика на фазните промени. Ако промените во оптичката должина на патот се поголеми од брановата должина сликата ќе има прстени.
 
Постојат неколку техники на [[фазно-контрасно рендгенско снимањер]] за да се определат 2D или 3D просторни распределби на показателот на прекршување на примероците во рендгенскиот режим.<ref>{{Cite journal | first = Richard | last = Fitzgerald | title = Phase‐Sensitive X‐Ray Imaging | journal = Physics Today | volume = 53 | page = 23 | date = July 2000 | doi = 10.1063/1.1292471|bibcode = 2000PhT....53g..23F | issue = 7 }}</ref>
 
==Примени==
 
==Поврзано==